本文標(biāo)題："了解顯微技術(shù)中的剪切力反饋模式"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過 -----時間：2014-4-28 10:43:15

了解顯微技術(shù)中的剪切力反饋模式

剪切力反饋模式是指將頻率振蕩的探針接近試樣外面的時候，振蕩的針尖跟試
樣之間所存在的作用力，這時振蕩的幅度跟相位都會產(chǎn)生很大的變化，可以將
探針限制在5納米到20納米范圍之間，剪切力反饋模式不需要參考激光的介入，
它是一種非光學(xué)的距離調(diào)控方式，可以使光學(xué)所成的圖像具有更高的真實性，
Zhu.Huang等一些人所研究并發(fā)明的超聲共振式主要采用的就是剪切力反饋模式
，蔡薇跟其它一些學(xué)者應(yīng)用并發(fā)明這個方法，因此提出可雙壓電陶瓷片的反射
式，然而針尖跟試樣之間剪切力的作用機制的研究，是經(jīng)過采用濕度不一樣和
介質(zhì)不一樣的條件下量測的音叉微電流跟探針與試樣之間距離的曲線來證明。

后一篇文章：光學(xué)顯微鏡下可以觀測到細胞的哪些結(jié)構(gòu) »
前一篇文章：« 金相試樣化學(xué)拋光

tags:顯微鏡百科,生物顯微鏡,精密儀器,

了解顯微技術(shù)中的剪切力反饋模式,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：http://m.hzruihang.cn/wz/1144.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：http://m.hzruihang.cn/
http://www.xianweijing.org/