本文標(biāo)題："不連續(xù)晶體中的構(gòu)造晶格光學(xué)測量顯微鏡的應(yīng)用"

不連續(xù)晶體中的構(gòu)造晶格光學(xué)測量顯微鏡的應(yīng)用

結(jié)晶學(xué)域中的不連續(xù)晶體中的構(gòu)造不連續(xù)面和不線（即

晶格面和晶格方向）不能直接看到，因?yàn)樗鼈兂霈F(xiàn)在原子的

規(guī)模上。

不過，它們的方位可以根據(jù)晶體光性與結(jié)晶特征之間的

一些已知關(guān)系用光學(xué)方法測定，或是通過觀察比原子規(guī)模大

得多的有關(guān)物理性不連續(xù)體（解理、雙晶紋、裂理等等）

來直接地確定。晶體內(nèi)部不連續(xù)面的完整概念是通過X

光分析建立的

因?yàn)橐粋€晶體除了在小規(guī)模上外總是一個均勻域，所

以整個晶體的某種特定構(gòu)造不連續(xù)面或不連續(xù)線的方位用一

個觀測結(jié)果就能全部代表。

這種不連續(xù)體在此稱為慣穿不連續(xù)體，因?yàn)樗鼈冎貜?fù)出

現(xiàn)的間距與整個晶體相比是如此之小，以致可以認(rèn)為它們均

勻地遍及整個晶體，出現(xiàn)在每一點(diǎn)上。

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不連續(xù)晶體中的構(gòu)造晶格光學(xué)測量顯微鏡的應(yīng)用,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)